Odgovor na originalno pitanje je, zavisi šta merimo. Moguće je konstruisati merenje koje će detektovati prisustvo, npr. elektrona na dva mesta istovremeno (ie. double slit eksperiment sa jednim elektronom). Međutim, problem je tada što takva postavka eksperimenta omogućava posmatranje samo talasnih svojstava elektrona, a za talas je inherentna stvar delokalizacija, tj. prisustvo na više mesta istovremeno tako da nas istovremena detekcija elektrona na više mesta ne treba čuditi. Međutim, ukoliko bismo imali eksperiment, koji posmatra čestična svojstva elektrona, ne bismo bili u stanju da posmatramo elektron na više mesta istovremeno. Npr. u slučaju slobodne čestice, imamo da je talasna funkcija
ravni talas, tj. totalno delokalizovani objekat koji se prostire po celom prostoru.
#define TRUE FALSE /*Happy debugging suckers*/